解決方案
功率半導體
以SiC(碳化硅)、GaN(氮化鎵)為代表的功率半導體器件被測參數可分為兩大類：靜態(tài)特性測試和動態(tài)特性測試。靜態(tài)特性測試主要是表征器件本征特性指標，如擊穿電壓、漏電、跨導、導通內阻等；動態(tài)參數是指器件開關過程中的相關參數，如開關特性參數、體二極管反向恢復特性參數及柵極電荷特性參數等，主要采用雙脈沖測試進行。
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分立器件
武漢普賽斯儀表有限公司提供二極管/三極管/場效應管/大功率激光器等多種半導體分立器件電性能測試解決方案，可進行工藝設計/材料評估/產品建模性能驗證、可靠性分析、生產過程管控、晶圓驗收測試/模具分類、封裝測試、失效分析，為半導體分立器件的研發(fā)、生產和驗證提供一站式解決方案。
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材料研究
武漢普賽斯儀表有限公司提供半導體材料的電特性表征解決方案，可測試半導體材料電性能參數，如電流I，電壓V，或者電阻Ω的變化情況，為半導體材料的研究及分析提供可靠的數據支持。
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傳感器
武漢普賽斯儀表有限公司提供“五合一”傳感器性能驗證測試解決方案，一臺儀器即可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表,還可用作精密電子負載。其高性能架構還允許將其用作脈沖發(fā)生器,波形發(fā)生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統,支持四象限工作。
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集成電路與微電子教學
武漢普賽斯儀表有限公司教育和教學實驗室集成工作臺解決方案，可覆蓋集成電路測試與驗證、集成電路原理與應用、半導體器件物理、半導體集成電路、模擬電子技術基礎實驗、電路基礎實驗等專業課程，助力高校打造芯片及功率器件測試實踐實訓中心。
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我們的優(yōu)勢
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掌握核心半導體電性能測試核心技術
基于普賽斯電子領先的光學與光電技術、微弱信號處理與抗干擾技術、高速數字信號處理、核心算法與系統集成等技術平臺優(yōu)勢。
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自主研發(fā)及國產化替代實力
率先自主研發(fā)高精度臺式數字源表(SMU) ，實現國產化替代及產業化。
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完善優(yōu)質的服務體系
幫助用戶構建自定義的高效率、高精度、高安全性解決方案，致力于為客戶提供最優(yōu)質的產品和最貼心的服務。
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